Traps identification in silicon nanocrystals memories by low noise technique: Fid-Bau Portal

Traps identification in silicon nanocrystals memories by low noise technique

Sghaier, N. / Troudi, M. / Militaru, L. / Kalboussi, A. / Souifi, A.

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Titel:

Traps identification in silicon nanocrystals memories by low noise technique

Beteiligte:

Sghaier, N. (Autor:in) / Troudi, M. (Autor:in) / Militaru, L. (Autor:in) / Kalboussi, A. (Autor:in) / Souifi, A. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -AMSTERDAM THEN LAUSANNE- C ; 28 ; 882-886

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0928-4931

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1 / 660

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