Raman spectroscopic studies of PbxLa1-xTi1-x/4O3 thin films grown on Si substrates by RF magnetron sputtering: Fid-Bau Portal

Raman spectroscopic studies of PbxLa1-xTi1-x/4O3 thin films grown on Si substrates by RF magnetron sputtering

Zhu, J. L. / Zhu, W. L. / Li, R. T. / Ge, W. Y. / Jiang, M. / Zhu, J. G. / Xiao, D. Q. / Pezzotti, G.

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Titel:

Raman spectroscopic studies of PbxLa1-xTi1-x/4O3 thin films grown on Si substrates by RF magnetron sputtering

Beteiligte:

Zhu, J. L. (Autor:in) / Zhu, W. L. (Autor:in) / Li, R. T. (Autor:in) / Ge, W. Y. (Autor:in) / Jiang, M. (Autor:in) / Zhu, J. G. (Autor:in) / Xiao, D. Q. (Autor:in) / Pezzotti, G. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 254 ; 4803-4807

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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