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    Titel:

    Damage Evaluation Based on Electrical Resistance Measurement

    Beteiligte:

    Yang, L.J. (Autor:in) / Sun, B.X. (Autor:in) / Guo, Y.M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    KEY ENGINEERING MATERIALS ; 385/387 ; 589-592

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2008

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    1013-9826

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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