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Characterization of ionic migration on CoF substrate by ToF-SIMS

Mogi, S. / Wada, M. / Matsumura, Y. / Tabira, Y.

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Titel:

Characterization of ionic migration on CoF substrate by ToF-SIMS

Beteiligte:

Mogi, S. (Autor:in) / Wada, M. (Autor:in) / Matsumura, Y. (Autor:in) / Tabira, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 1443-1445

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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