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Teaching SIMS fundamentals using the FIB ion microscope

Chater, R. J. / McPhail, D. S.

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Titel:

Teaching SIMS fundamentals using the FIB ion microscope

Beteiligte:

Chater, R. J. (Autor:in) / McPhail, D. S. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 1519-1522

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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