Zone T Structural Characterization of Superhard TiB~2 Thin Films Prepared by RF Magnetron Sputtering: Fid-Bau Portal

Zone T Structural Characterization of Superhard TiB~2 Thin Films Prepared by RF Magnetron Sputtering

Dai, W. / Zhang, T.-j. / Yang, J.-y. / Sun, R.-x. / Xu, J.-l.

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Titel:

Zone T Structural Characterization of Superhard TiB~2 Thin Films Prepared by RF Magnetron Sputtering

Beteiligte:

Dai, W. (Autor:in) / Zhang, T.-j. (Autor:in) / Yang, J.-y. (Autor:in) / Sun, R.-x. (Autor:in) / Xu, J.-l. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -HANGZHOU- ; 26 ; 697-699

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

1673-2812

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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