Electrical Scanning Probe Microscopy on Active Organic Electronic Devices: Fid-Bau Portal

Electrical Scanning Probe Microscopy on Active Organic Electronic Devices

Pingree, L. S. / Reid, O. G. / Ginger, D. S.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Electrical Scanning Probe Microscopy on Active Organic Electronic Devices

Pingree, L. S. / Reid, O. G. / Ginger, D. S.

Electrical Scanning Probe Microscopy on Active Organic Electronic Devices

Pingree, L. S. / Reid, O. G. / Ginger, D. S.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Electrical Scanning Probe Microscopy on Active Organic Electronic Devices

Beteiligte:

Pingree, L. S. (Autor:in) / Reid, O. G. (Autor:in) / Ginger, D. S. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH THEN WEINHEIM- ; 21 ; 19-28

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

0935-9648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Pingree, L. S. / Reid, O. G. / Ginger, D. S. | British Library Online Contents | 2009

Electrical characterization of semiconductor materials and devices using scanning probe microscopy

De Wolf, P. / Brazel, E. / Erickson, A. | British Library Online Contents | 2001

Scanning probe microscopy

British Library Online Contents | 2006

Local electrical characterization of SOI wafers by scanning probe microscopy

Ishizuka, Y. / Uchihashi, T. / Yoshida, H. et al. | British Library Online Contents | 2002

Introduction to Scanning Probe Microscopy

Professor Dr. Meyer, Ernst / Professor Dr. Hug, Hans Josef / Dr. Bennewitz, Roland | Springer Verlag | 2004

Nach oben