Reliability Aspects of High Voltage 4H-SiC JBS Diodes: Fid-Bau Portal

Reliability Aspects of High Voltage 4H-SiC JBS Diodes

Brosselard, P. / Camara, N. / Jorda, X. / Vellvehi, M. / Bano, E. / Millan, J. / Godignon, P.

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Titel:

Reliability Aspects of High Voltage 4H-SiC JBS Diodes

Beteiligte:

Brosselard, P. (Autor:in) / Camara, N. (Autor:in) / Jorda, X. (Autor:in) / Vellvehi, M. (Autor:in) / Bano, E. (Autor:in) / Millan, J. (Autor:in) / Godignon, P. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 600/603 ; 935-938

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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