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Graphene Layers on Silicon Carbide Studied by Raman Spectroscopy

Rohrl, J. / Hundhausen, M. / Emtsev, K.V. / Seyller, T. / Ley, L.

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Titel:

Graphene Layers on Silicon Carbide Studied by Raman Spectroscopy

Beteiligte:

Rohrl, J. (Autor:in) / Hundhausen, M. (Autor:in) / Emtsev, K.V. (Autor:in) / Seyller, T. (Autor:in) / Ley, L. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 600/603 ; 567-570

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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