Characterization of Silicon Carbide using Raman Spectroscopy: Fid-Bau Portal

Characterization of Silicon Carbide using Raman Spectroscopy

Burton, J. C. / Long, F. H. / Khlebnikov, Y. / Khlebnikov, I. / Parker, M. / Sudarshan, T. S.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Characterization of Silicon Carbide using Raman Spectroscopy

Burton, J. C. / Long, F. H. / Khlebnikov, Y. / Khlebnikov, I. / Parker, M. / Sudarshan, T. S.

Characterization of Silicon Carbide using Raman Spectroscopy

Burton, J. C. / Long, F. H. / Khlebnikov, Y. / Khlebnikov, I. / Parker, M. / Sudarshan, T. S.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Characterization of Silicon Carbide using Raman Spectroscopy

Beteiligte:

Burton, J. C. (Autor:in) / Long, F. H. (Autor:in) / Khlebnikov, Y. (Autor:in) / Khlebnikov, I. (Autor:in) / Parker, M. (Autor:in) / Sudarshan, T. S. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 338/342 ; 615-618

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Rohrl, J. / Hundhausen, M. / Emtsev, K.V. et al. | British Library Online Contents | 2009

Photoluminescence and Raman Spectroscopy Characterization of Boron- and Nitrogen-Doped 6H Silicon Carbide

Ou, Y.Y. / Jokubavicius, V. / Liu, C. et al. | British Library Online Contents | 2012

Analysis of Microstructure of Silicon Carbide Fiber by Raman Spectroscopy

Jin, B. / Shi, N. | British Library Online Contents | 2008

Backside Monitoring of Graphene on Silicon Carbide by Raman Spectroscopy

Fromm, F. / Hundhausen, M. / Kaiser, M. et al. | British Library Online Contents | 2014

Study of Indentation Damage in Single Crystal Silicon Carbide by Using Micro Raman Spectroscopy

Yamaguchi, M. / Fujitsuka, M. / Ueno, S. et al. | British Library Online Contents | 2010

Nach oben