Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Advanced Nano-Scale Metrology for the Characterization of Ceramic Materials in the Scanning Electron Microscope

    Neue Suche nach: Pezzotti, G.
    Neue Suche nach: Matsutani, A.
    Neue Suche nach: Munisso, M.C.
    Neue Suche nach: Zhu, W.L.
    Neue Suche nach: Xiao, P.
    Neue Suche nach: Ralph, B.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Advanced Nano-Scale Metrology for the Characterization of Ceramic Materials in the Scanning Electron Microscope

    Neue Suche nach: Pezzotti, G.
    Neue Suche nach: Matsutani, A.
    Neue Suche nach: Munisso, M.C.
    Neue Suche nach: Zhu, W.L.
    Neue Suche nach: Xiao, P.
    Neue Suche nach: Ralph, B.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Advanced Nano-Scale Metrology for the Characterization of Ceramic Materials in the Scanning Electron Microscope

    Neue Suche nach: Pezzotti, G.
    Neue Suche nach: Matsutani, A.
    Neue Suche nach: Munisso, M.C.
    Neue Suche nach: Zhu, W.L.
    Neue Suche nach: Xiao, P.
    Neue Suche nach: Ralph, B.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Advanced Nano-Scale Metrology for the Characterization of Ceramic Materials in the Scanning Electron Microscope

    Beteiligte:

    Pezzotti, G. (Autor:in) / Matsutani, A. (Autor:in) / Munisso, M.C. (Autor:in) / Zhu, W.L. (Autor:in) / Xiao, P. / Ralph, B.

    Erschienen in:

    Advances in Ceramic Materials ; 93-102

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 606

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2009

    Format / Umfang:

    10 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Mechanical Properties Evaluation of Nano-Structured Materials in Scanning Electron Microscope

    Nahm, S.H. / Jang, H.S. / Jeon, S.K. et al. | British Library Online Contents | 2010

    A fluorescence scanning electron microscope

    Kanemaru, T. / Hirata, K. / Takasu, S. i. et al. | British Library Online Contents | 2010

    Scanning electron microscope magnifies further

    British Library Online Contents | 2007

    Nano-scale patterning on sulfur terminated GaAs (001) surface by scanning tunneling microscope

    Yagishita, Y. / Toda, Y. / Hirai, M. et al. | British Library Online Contents | 2004

    Advances in Scanning Electron Microscope Moire

    Chen, H. / Liu, D. | British Library Online Contents | 2001

    Nach oben