Positron Beam Characterization of Silica Thin Films with Structurally Ordered Porosity: Fid-Bau Portal

Positron Beam Characterization of Silica Thin Films with Structurally Ordered Porosity

Yu, R.S. / Qin, X.B. / Wang, Q.Z. / Zhang, Z. / Zhong, Y.R. / Li, Z.X. / Wang, B.Y. / Wei, L. / Jia, Q.J. / Kurihara, T.

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Yu, R.S. / Qin, X.B. / Wang, Q.Z. / Zhang, Z. / Zhong, Y.R. / Li, Z.X. / Wang, B.Y. / Wei, L. / Jia, Q.J. / Kurihara, T.

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Titel:

Positron Beam Characterization of Silica Thin Films with Structurally Ordered Porosity

Beteiligte:

Yu, R.S. (Autor:in) / Qin, X.B. (Autor:in) / Wang, Q.Z. (Autor:in) / Zhang, Z. (Autor:in) / Zhong, Y.R. (Autor:in) / Li, Z.X. (Autor:in) / Wang, B.Y. (Autor:in) / Wei, L. (Autor:in) / Jia, Q.J. (Autor:in) / Kurihara, T. (Autor:in)

Erschienen in:

Positron and Positronium Chemistry ; 99-101

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 607

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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