Optical and Structural Characterization of InGaN/GaN Multiple Quantum Wells by Epitaxial Lateral Overgrowth: Fid-Bau Portal

Optical and Structural Characterization of InGaN/GaN Multiple Quantum Wells by Epitaxial Lateral Overgrowth

Sugiyama, M. / Shioda, T. / Tomita, Y. / Yamamoto, T. / Ikuhara, Y. / Nakano, Y.

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Titel:

Optical and Structural Characterization of InGaN/GaN Multiple Quantum Wells by Epitaxial Lateral Overgrowth

Beteiligte:

Sugiyama, M. (Autor:in) / Shioda, T. (Autor:in) / Tomita, Y. (Autor:in) / Yamamoto, T. (Autor:in) / Ikuhara, Y. (Autor:in) / Nakano, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS TRANSACTIONS ; 50 ; 1085-1090

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

1345-9678

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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