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Ultimate Scaling of CMOS Logic Devices with Ge and III-V Materials

Heyns, M. / Tsai, W.

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Titel:

Ultimate Scaling of CMOS Logic Devices with Ge and III-V Materials

Beteiligte:

Heyns, M. (Autor:in) / Tsai, W. (Autor:in)

Erschienen in:

MRS BULLETIN- MATERIALS RESEARCH SOCIETY ; 34 ; 485-492

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0883-7694

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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