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    Titel:

    High-Temperature Thermoelectric Measurement of B-Doped SiGe and Si Thin Films

    Beteiligte:

    Shin, W. (Autor:in) / Ishikawa, M. (Autor:in) / Nishibori, M. (Autor:in) / Izu, N. (Autor:in) / Itoh, T. (Autor:in) / Matsubara, I. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS TRANSACTIONS ; 50 ; 1596-1602

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2009

    Format / Umfang:

    7 pages

    ISSN:

    1345-9678

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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