Nanoindentation Behaviour and Microstructural Evolution of Au/Cr/Si Thin Films: Fid-Bau Portal

Nanoindentation Behaviour and Microstructural Evolution of Au/Cr/Si Thin Films

Lee, W.-S. / Liu, T.-Y. / Chen, T.-H.

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Titel:

Nanoindentation Behaviour and Microstructural Evolution of Au/Cr/Si Thin Films

Beteiligte:

Lee, W.-S. (Autor:in) / Liu, T.-Y. (Autor:in) / Chen, T.-H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS TRANSACTIONS ; 50 ; 1768-1777

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

1345-9678

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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