High-resolution transmission-electron-microscopy study of ultrathin Al-induced crystallization of amorphous Si: Fid-Bau Portal

High-resolution transmission-electron-microscopy study of ultrathin Al-induced crystallization of amorphous Si

Wang, Z. / Jeurgens, L.P.H. / Wang, J.Y. / Phillipp, F. / Mittemeijer, E.J.

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Titel:

High-resolution transmission-electron-microscopy study of ultrathin Al-induced crystallization of amorphous Si

Beteiligte:

Wang, Z. (Autor:in) / Jeurgens, L.P.H. (Autor:in) / Wang, J.Y. (Autor:in) / Phillipp, F. (Autor:in) / Mittemeijer, E.J. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 24 ; 3294-3299

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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