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    Titel:

    Ellipsometry porosimetry (EP): Thin film porosimetry by coupling an adsorption setting with an optical measurement, highlights on diffusion results

    Beteiligte:

    Bourgeois, A. (Autor:in) / Turcant, Y. (Autor:in) / Walsh, C. (Autor:in) / Defranoux, C. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 256 ; S26-S29

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2009

    Format / Umfang:

    S26-S29

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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