Study of scratching Mg-based BMG using nanoindenter with Berkovich probe: Fid-Bau Portal

Study of scratching Mg-based BMG using nanoindenter with Berkovich probe

Pan, C. T. / Wu, T. T. / Liu, C. F. / Su, C. Y. / Wang, W. J. / Huang, J. C.

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Titel:

Study of scratching Mg-based BMG using nanoindenter with Berkovich probe

Beteiligte:

Pan, C. T. (Autor:in) / Wu, T. T. (Autor:in) / Liu, C. F. (Autor:in) / Su, C. Y. (Autor:in) / Wang, W. J. (Autor:in) / Huang, J. C. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A ; 527 ; 2342-2349

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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