Annealing temperature dependence of effective piezoelectric coefficients for Bi3.15Eu0.85Ti3O12 thin films: Fid-Bau Portal

Annealing temperature dependence of effective piezoelectric coefficients for Bi3.15Eu0.85Ti3O12 thin films

Zheng, X. J. / Wu, Q. Y. / Peng, J. F. / He, L. / Feng, X. / Chen, Y. Q. / Zhang, D. Z.

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Titel:

Annealing temperature dependence of effective piezoelectric coefficients for Bi3.15Eu0.85Ti3O12 thin films

Beteiligte:

Zheng, X. J. (Autor:in) / Wu, Q. Y. (Autor:in) / Peng, J. F. (Autor:in) / He, L. (Autor:in) / Feng, X. (Autor:in) / Chen, Y. Q. (Autor:in) / Zhang, D. Z. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 45 ; 3001-3006

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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