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    Titel:

    Nanorelief Measurements Errors for a White-Light Interferometer with Chromatic Aberrations

    Beteiligte:

    Sysoev, E.V. (Autor:in) / Chugui, Y. / Gao, Y. / Fan, K.-C. / Taymanov, R. / Sapozhnikova, K.

    Erschienen in:

    Measurement Technology and Intelligent Instruments IX ; 51-55

    KEY ENGINEERING MATERIALS ; 437

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2010

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    1013-9826

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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