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    Titel:

    Uncertainty Analysis of Helical Deviation Measurements

    Beteiligte:

    Shi, Z.Y. (Autor:in) / Lin, J.C. (Autor:in) / Krystek, M.P. (Autor:in) / Chugui, Y. / Gao, Y. / Fan, K.-C. / Taymanov, R. / Sapozhnikova, K.

    Erschienen in:

    Measurement Technology and Intelligent Instruments IX ; 212-216

    KEY ENGINEERING MATERIALS ; 437

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2010

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    1013-9826

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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