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    Titel:

    Detection of Crosstalk Faults in Digital Circuits by Testability Evaluation

    Beteiligte:

    Chen, L. (Autor:in) / Pan, Z.L. (Autor:in) / Wu, Y.

    Erschienen in:

    Advanced Measurement and Test ; 1241-1246

    KEY ENGINEERING MATERIALS ; 439/440

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2010

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    1013-9826

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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