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XPS analysis for degraded Y2SiO5:Ce phosphor thin films

Coetsee, E. / Terblans, J. J. / Swart, H. C.

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Titel:

XPS analysis for degraded Y2SiO5:Ce phosphor thin films

Beteiligte:

Coetsee, E. (Autor:in) / Terblans, J. J. (Autor:in) / Swart, H. C. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 256 ; 6641-6648

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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