Analysis of defect related optical transitions in biased AlGaN/GaN heterostructures: Fid-Bau Portal

Analysis of defect related optical transitions in biased AlGaN/GaN heterostructures

Bengi, A. / Lisesivdin, S. B. / Kasap, M. / Mammadov, T. / Ozcelik, S. / Ozbay, E.

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Titel:

Analysis of defect related optical transitions in biased AlGaN/GaN heterostructures

Beteiligte:

Bengi, A. (Autor:in) / Lisesivdin, S. B. (Autor:in) / Kasap, M. (Autor:in) / Mammadov, T. (Autor:in) / Ozcelik, S. (Autor:in) / Ozbay, E. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 13 ; 105-108

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1369-8001

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.38152

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