Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Ti/Al ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures with different defect density

    Neue Suche nach: Greco, G.
    Neue Suche nach: Iucolano, F.
    Neue Suche nach: Bongiorno, C.
    Neue Suche nach: Giannazzo, F.
    Neue Suche nach: Krysko, M.
    Neue Suche nach: Leszczynski, M.
    Neue Suche nach: Roccaforte, F.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Ti/Al ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures with different defect density

    Neue Suche nach: Greco, G.
    Neue Suche nach: Iucolano, F.
    Neue Suche nach: Bongiorno, C.
    Neue Suche nach: Giannazzo, F.
    Neue Suche nach: Krysko, M.
    Neue Suche nach: Leszczynski, M.
    Neue Suche nach: Roccaforte, F.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Ti/Al ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures with different defect density

    Neue Suche nach: Greco, G.
    Neue Suche nach: Iucolano, F.
    Neue Suche nach: Bongiorno, C.
    Neue Suche nach: Giannazzo, F.
    Neue Suche nach: Krysko, M.
    Neue Suche nach: Leszczynski, M.
    Neue Suche nach: Roccaforte, F.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Ti/Al ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures with different defect density

    Beteiligte:

    Greco, G. (Autor:in) / Iucolano, F. (Autor:in) / Bongiorno, C. (Autor:in) / Giannazzo, F. (Autor:in) / Krysko, M. (Autor:in) / Leszczynski, M. (Autor:in) / Roccaforte, F. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 314 ; 546-551

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2014

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Ti/Al ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures with different defect density

    Greco, Giuseppe / Iucolano, Ferdinando / Bongiorno, Corrado et al. | British Library Online Contents | 2014

    Characterization of Ohmic contacts on GaN/AlGaN heterostructures

    Kaciulis, S. / Pandolfi, L. / Viticoli, S. et al. | British Library Online Contents | 2006

    Influence of Thermal Annealing on Ohmic Contacts and Device Isolation in AlGaN/GaN Heterostructures

    Roccaforte, F. / Iucolano, F. / Giannazzo, F. et al. | British Library Online Contents | 2009

    Current Transport in Ti/Al/Ni/Au Ohmic Contacts to GaN and AlGaN

    Lucolano, F. / Roccaforte, F. / Giannazzo, F. et al. | British Library Online Contents | 2007

    Micro-structural evaluation of Ti/Al/Ni/Au ohmic contacts with different Ti/Al thicknesses in AlGaN/GaN HEMTs

    Mahajan, S. S. / Dhaul, A. / Laishram, R. et al. | British Library Online Contents | 2014

    Nach oben