Formation and disruption of current paths of anodic porous alumina films by conducting atomic force microscopy: Fid-Bau Portal

Formation and disruption of current paths of anodic porous alumina films by conducting atomic force microscopy

Oyoshi, K. / Nigo, S. / Inoue, J. / Sakai, O. / Kitazawa, H. / Kido, G.

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Titel:

Formation and disruption of current paths of anodic porous alumina films by conducting atomic force microscopy

Beteiligte:

Oyoshi, K. (Autor:in) / Nigo, S. (Autor:in) / Inoue, J. (Autor:in) / Sakai, O. (Autor:in) / Kitazawa, H. (Autor:in) / Kido, G. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 257 ; 837-841

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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