Mapping strain gradients in the FIB-structured InGaN/GaN multilayered films with 3D X-ray microbeam: Fid-Bau Portal

Mapping strain gradients in the FIB-structured InGaN/GaN multilayered films with 3D X-ray microbeam

Barabash, R. I. / Gao, Y. F. / Ice, G. E. / Barabash, O. M. / Chung, J. S. / Liu, W. / Kroger, R. / Lohmeyer, H. / Sebald, K. / Gutowski, J.

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Titel:

Mapping strain gradients in the FIB-structured InGaN/GaN multilayered films with 3D X-ray microbeam

Beteiligte:

Barabash, R. I. (Autor:in) / Gao, Y. F. (Autor:in) / Ice, G. E. (Autor:in) / Barabash, O. M. (Autor:in) / Chung, J. S. (Autor:in) / Liu, W. (Autor:in) / Kroger, R. (Autor:in) / Lohmeyer, H. (Autor:in) / Sebald, K. (Autor:in) / Gutowski, J. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A ; 528 ; 52-57

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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