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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Quantification of void network architectures of suspension plasma-sprayed (SPS) yttria-stabilized zirconia (YSZ) coatings using Ultra-small-angle X-ray scattering (USAXS)

    Beteiligte:

    Bacciochini, A. (Autor:in) / Ilavsky, J. (Autor:in) / Montavon, G. (Autor:in) / Denoirjean, A. (Autor:in) / Ben-ettouil, F. (Autor:in) / Valette, S. (Autor:in) / Fauchais, P. (Autor:in) / Wittmann-teneze, K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A ; 528 ; 91-102

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2010

    Format / Umfang:

    12 pages

    ISSN:

    0921-5093

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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