Mapping microstructure inhomogeneity using electron backscatter diffraction in 316L stainless steel subjected to hot plane strain compression tests: Fid-Bau Portal

Mapping microstructure inhomogeneity using electron backscatter diffraction in 316L stainless steel subjected to hot plane strain compression tests

Sun, L. / Thomas, M.J. / Wynne, B.P. / Palmiere, E.J. / Mingard, K.P. / Roebuck, B.

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Titel:

Mapping microstructure inhomogeneity using electron backscatter diffraction in 316L stainless steel subjected to hot plane strain compression tests

Beteiligte:

Sun, L. (Autor:in) / Thomas, M.J. (Autor:in) / Wynne, B.P. (Autor:in) / Palmiere, E.J. (Autor:in) / Mingard, K.P. (Autor:in) / Roebuck, B. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND TECHNOLOGY -LONDON- ; 26 ; 1477-1486

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

0267-0836

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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