Irradiation-induced defect clustering and amorphization in silicon carbide: Fid-Bau Portal

Irradiation-induced defect clustering and amorphization in silicon carbide

Weber, W.J. / Gao, F.

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Titel:

Irradiation-induced defect clustering and amorphization in silicon carbide

Beteiligte:

Weber, W.J. (Autor:in) / Gao, F. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 25 ; 2349-2353

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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