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Analysis of Stress in Aircraft Components Using Lock-In Thermography

Liu, X. / Liu, J.Y. / Li, X.D. / Zhang, G.Y.

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Titel:

Analysis of Stress in Aircraft Components Using Lock-In Thermography

Beteiligte:

Liu, X. (Autor:in) / Liu, J.Y. (Autor:in) / Li, X.D. (Autor:in) / Zhang, G.Y. (Autor:in) / Huang, Y.M.

Erschienen in:

Optoelectronic Materials ; 1073-1076

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 663/665

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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