Nanostructural characterization of TiN-Ni films: A XAFS study: Fid-Bau Portal

Nanostructural characterization of TiN-Ni films: A XAFS study

Pinakidou, F. / Katsikini, M. / Paloura, E. C. / Akbari, A. / Riviere, J. P.

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Titel:

Nanostructural characterization of TiN-Ni films: A XAFS study

Beteiligte:

Pinakidou, F. (Autor:in) / Katsikini, M. (Autor:in) / Paloura, E. C. (Autor:in) / Akbari, A. (Autor:in) / Riviere, J. P. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B ADVANCED FUNCTIONAL SOLID STATE MATERIALS ; 176 ; 473-476

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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