Thermal stability of Al/nanocrystalline-Si bilayers investigated by in situ heating energy-filtered transmission electron microscopy: Fid-Bau Portal

Thermal stability of Al/nanocrystalline-Si bilayers investigated by in situ heating energy-filtered transmission electron microscopy

Wang, Z. M. / Gu, L. / Jeurgens, L. P. / Mittemeijer, E. J.

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Titel:

Thermal stability of Al/nanocrystalline-Si bilayers investigated by in situ heating energy-filtered transmission electron microscopy

Beteiligte:

Wang, Z. M. (Autor:in) / Gu, L. (Autor:in) / Jeurgens, L. P. (Autor:in) / Mittemeijer, E. J. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 46 ; 4314-4317

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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