Study of rapid grain boundary migration in a nanocrystalline Ni thin film: Fid-Bau Portal

Study of rapid grain boundary migration in a nanocrystalline Ni thin film

Kacher, J. / Robertson, I. M. / Nowell, M. / Knapp, J. / Hattar, K.

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Titel:

Study of rapid grain boundary migration in a nanocrystalline Ni thin film

Beteiligte:

Kacher, J. (Autor:in) / Robertson, I. M. (Autor:in) / Nowell, M. (Autor:in) / Knapp, J. (Autor:in) / Hattar, K. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A ; 528 ; 1628-1635

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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