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    Titel:

    Electrical Characterization of Nitrogen Implanted 3C-SiC by SSRM and C-TLM Measurements

    Beteiligte:

    Song, X. (Autor:in) / Bazin, A.E. (Autor:in) / Michaud, J.F. (Autor:in) / Cayrel, F. (Autor:in) / Zielinski, M. (Autor:in) / Portail, M. (Autor:in) / Chassagne, T. (Autor:in) / Collard, E. (Autor:in) / Alquier, D. (Autor:in) / Monakhov, E.V.

    Erschienen in:

    Silicon Carbide and Related Materials 2010 ; 193-196

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 679/680

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2011

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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