Iron-Related Defect Centers in 4H-SiC Detected by Deep Level Transient Spectroscopy: Fid-Bau Portal

Iron-Related Defect Centers in 4H-SiC Detected by Deep Level Transient Spectroscopy

Trapaidze, L. / Hollweck, R. / Beljakowa, S. / Zippelius, B. / Weber, H.B. / Pensl, G. / Krieger, M.

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Titel:

Iron-Related Defect Centers in 4H-SiC Detected by Deep Level Transient Spectroscopy

Beteiligte:

Trapaidze, L. (Autor:in) / Hollweck, R. (Autor:in) / Beljakowa, S. (Autor:in) / Zippelius, B. (Autor:in) / Weber, H.B. (Autor:in) / Pensl, G. (Autor:in) / Krieger, M. (Autor:in) / Monakhov, E.V. / Hornos, T. / Svensson, B.G.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2010 ; 257-260

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 679/680

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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