Long Distance Point Defect Migration in Irradiated SiC Observed by Deep Level Transient Spectroscopy: Fid-Bau Portal

Long Distance Point Defect Migration in Irradiated SiC Observed by Deep Level Transient Spectroscopy

Alfieri, G. / Grossner, U. / Monakhov, E. V. / Svensson, B. G. / Steeds, J. W. / Sullivan, W.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Long Distance Point Defect Migration in Irradiated SiC Observed by Deep Level Transient Spectroscopy

Alfieri, G. / Grossner, U. / Monakhov, E. V. / Svensson, B. G. / Steeds, J. W. / Sullivan, W.

Long Distance Point Defect Migration in Irradiated SiC Observed by Deep Level Transient Spectroscopy

Alfieri, G. / Grossner, U. / Monakhov, E. V. / Svensson, B. G. / Steeds, J. W. / Sullivan, W.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Long Distance Point Defect Migration in Irradiated SiC Observed by Deep Level Transient Spectroscopy

Beteiligte:

Alfieri, G. (Autor:in) / Grossner, U. (Autor:in) / Monakhov, E. V. (Autor:in) / Svensson, B. G. (Autor:in) / Steeds, J. W. (Autor:in) / Sullivan, W. (Autor:in) / Devaty, R. P. / Larkin, D. J. / Saddow, S. E.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials - 2005 ; 485-488

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 527/529

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Leveque, P. / Martin, D. / Svensson, B. G. et al. | British Library Online Contents | 2003

Laplace transform deep level transient spectroscopy: new insight into defect microscopy

Dobaczewski, L. / Hawkins, I. D. / Peaker, A. R. | British Library Online Contents | 1995

Trapaidze, L. / Hollweck, R. / Beljakowa, S. et al. | British Library Online Contents | 2011

Deep Levels in Electron-Irradiated n- and p-type 4H-SiC Investigated by Deep Level Transient Spectroscopy

Danno, K. / Kimoto, T. | British Library Online Contents | 2007

Deep Level Defect Study of Ion Implanted (Ar, Mg, Cr) n-Type 6H-SiC by Deep Level Transient Spectroscopy

Scott, M. B. / Scofield, J. D. / Yeo, Y. K. et al. | British Library Online Contents | 1998

Nach oben