Thermal shock induced nanocrack as high efficiency surface conduction electron emitter: Fid-Bau Portal

Thermal shock induced nanocrack as high efficiency surface conduction electron emitter

Chen, B. / Liu, H. / Wang, H. / Fan, F. / Wang, L. / Ding, Y. / Lu, B.

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Titel:

Thermal shock induced nanocrack as high efficiency surface conduction electron emitter

Beteiligte:

Chen, B. (Autor:in) / Liu, H. (Autor:in) / Wang, H. (Autor:in) / Fan, F. (Autor:in) / Wang, L. (Autor:in) / Ding, Y. (Autor:in) / Lu, B. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 257 ; 9125-9128

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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