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The testing of stress-sensitivity in heteroepitaxy GaN/Si by Raman spectroscopy

Tang, J. / Liang, T. / Shi, W. / Zhang, Q. / Wang, Y. / Liu, J. / Xiong, J.

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Titel:

The testing of stress-sensitivity in heteroepitaxy GaN/Si by Raman spectroscopy

Beteiligte:

Tang, J. (Autor:in) / Liang, T. (Autor:in) / Shi, W. (Autor:in) / Zhang, Q. (Autor:in) / Wang, Y. (Autor:in) / Liu, J. (Autor:in) / Xiong, J. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 257 ; 8846-8849

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Print

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

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