The semiconducting properties of passive films formed on AISI 316 L and AISI 321 stainless steels: A test of the point defect model (PDM): Fid-Bau Portal

The semiconducting properties of passive films formed on AISI 316 L and AISI 321 stainless steels: A test of the point defect model (PDM)

Fattah-alhosseini, A. / Soltani, F. / Shirsalimi, F. / Ezadi, B. / Attarzadeh, N.

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Titel:

The semiconducting properties of passive films formed on AISI 316 L and AISI 321 stainless steels: A test of the point defect model (PDM)

Beteiligte:

Fattah-alhosseini, A. (Autor:in) / Soltani, F. (Autor:in) / Shirsalimi, F. (Autor:in) / Ezadi, B. (Autor:in) / Attarzadeh, N. (Autor:in)

Erschienen in:

CORROSION SCIENCE ; 53 ; 3186-3192

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0010-938X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.16205 / 620

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