Length scale dependent yield strength and fatigue behavior of nanocrystalline Cu thin films: Fid-Bau Portal

Length scale dependent yield strength and fatigue behavior of nanocrystalline Cu thin films

Zhang, J. Y. / Zhang, X. / Liu, G. / Wang, R. H. / Zhang, G. J. / Sun, J.

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Titel:

Length scale dependent yield strength and fatigue behavior of nanocrystalline Cu thin films

Beteiligte:

Zhang, J. Y. (Autor:in) / Zhang, X. (Autor:in) / Liu, G. (Autor:in) / Wang, R. H. (Autor:in) / Zhang, G. J. (Autor:in) / Sun, J. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A ; 528 ; 7774-7780

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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