Multiscale simulation of nanometric cutting of single crystal copper and its experimental validation: Fid-Bau Portal

Multiscale simulation of nanometric cutting of single crystal copper and its experimental validation

Pen, H. M. / Liang, Y. C. / Luo, X. C. / Bai, Q. S. / Goel, S. / Ritchie, J. M.

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Titel:

Multiscale simulation of nanometric cutting of single crystal copper and its experimental validation

Beteiligte:

Pen, H. M. (Autor:in) / Liang, Y. C. (Autor:in) / Luo, X. C. (Autor:in) / Bai, Q. S. (Autor:in) / Goel, S. (Autor:in) / Ritchie, J. M. (Autor:in)

Erschienen in:

COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE ; 50 ; 3431-3441

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

11 pages

ISSN:

0927-0256

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1 / 510

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