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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Influence of Schottky Interfaces on Dielectric Properties in Perovskite-Type Oxide Thin-Film Capacitors

    Beteiligte:

    Horiuchi, N. (Autor:in) / Hoshina, T. (Autor:in) / Takeda, H. (Autor:in) / Tsurumi, T. (Autor:in) / Shinozaki, K. / Fujihara, S. / Chazono, H.

    Erschienen in:

    Electroceramics in Japan XIV Selected, peer reviewed papers from the 30^t^h Electronics Division Meeting of the Ceramic Society of Japan, October 29-30, 2010, Tokyo, Japan ; 203-206

    KEY ENGINEERING MATERIALS ; 485

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2011

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    1013-9826

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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