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Surface Wave Acoustic Microscopy for Rapid Non-destructive Evaluation of Silicon Nitride Balls

Xiang, D. / Qin, Y. / Li, F.

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Titel:

Surface Wave Acoustic Microscopy for Rapid Non-destructive Evaluation of Silicon Nitride Balls

Beteiligte:

Xiang, D. (Autor:in) / Qin, Y. (Autor:in) / Li, F. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF NONDESTRUCTIVE EVALUATION ; 30 ; 273-281

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

9 pages

ISSN:

0195-9298

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.1127

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