Prognostics of Failures in Embedded Planar Capacitors using Model-Based and Data-Driven Approaches: Fid-Bau Portal

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Prognostics of Failures in Embedded Planar Capacitors using Model-Based and Data-Driven Approaches

Alam, M.A. / Azarian, M.H. / Osterman, M. / Pecht, M.

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Titel:

Prognostics of Failures in Embedded Planar Capacitors using Model-Based and Data-Driven Approaches

Beteiligte:

Alam, M.A. (Autor:in) / Azarian, M.H. (Autor:in) / Osterman, M. (Autor:in) / Pecht, M. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF INTELLIGENT MATERIAL SYSTEMS AND STRUCTURES ; 22 ; 1293-1304

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

12 pages

ISSN:

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Print

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

© Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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