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    Titel:

    Spectroscopic and capacitance-voltage characterization of thin aminopropylmethoxysilane films doped with copper phthalocyanine, tris(dimethylvinylsilyloxy)-POSS and fullerene cages

    Beteiligte:

    Klocek, J. (Autor:in) / Henkel, K. (Autor:in) / Kolanek, K. (Autor:in) / Zschech, E. (Autor:in) / Schmeiszer, D. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 258 ; 4213-4221

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2012

    Format / Umfang:

    9 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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