Critical Conditions of Misfit Dislocation Formation in 4H-SiC Epilayers: Fid-Bau Portal

Critical Conditions of Misfit Dislocation Formation in 4H-SiC Epilayers

Zhang, X. / Miyazawa, T. / Tsuchida, H.

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Titel:

Critical Conditions of Misfit Dislocation Formation in 4H-SiC Epilayers

Beteiligte:

Zhang, X. (Autor:in) / Miyazawa, T. (Autor:in) / Tsuchida, H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 717/720 ; 313-318

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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