Comparative Study of Electrical and Microstructural Properties of 4H-SiC MOSFETs: Fid-Bau Portal

Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

Comparative Study of Electrical and Microstructural Properties of 4H-SiC MOSFETs

Strenger, C. / Haublein, V. / Erlbacher, T. / Bauer, A.J. / Ryssel, H. / Beltran, A.M. / Schamm-Chardon, S. / Mortet, V. / Bedel-Pereira, E. / Lefebvre, M.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Comparative Study of Electrical and Microstructural Properties of 4H-SiC MOSFETs

Strenger, C. / Haublein, V. / Erlbacher, T. / Bauer, A.J. / Ryssel, H. / Beltran, A.M. / Schamm-Chardon, S. / Mortet, V. / Bedel-Pereira, E. / Lefebvre, M.

Comparative Study of Electrical and Microstructural Properties of 4H-SiC MOSFETs

Strenger, C. / Haublein, V. / Erlbacher, T. / Bauer, A.J. / Ryssel, H. / Beltran, A.M. / Schamm-Chardon, S. / Mortet, V. / Bedel-Pereira, E. / Lefebvre, M.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Comparative Study of Electrical and Microstructural Properties of 4H-SiC MOSFETs

Beteiligte:

Strenger, C. (Autor:in) / Haublein, V. (Autor:in) / Erlbacher, T. (Autor:in) / Bauer, A.J. (Autor:in) / Ryssel, H. (Autor:in) / Beltran, A.M. (Autor:in) / Schamm-Chardon, S. (Autor:in) / Mortet, V. (Autor:in) / Bedel-Pereira, E. (Autor:in) / Lefebvre, M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 717/720 ; 437-440

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Print

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

© Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

Ähnliche Titel

Comparative Study of SiC MOSFETs in High Voltage Switching Operation

Funaki, T. / Nakano, Y. / Nakamura, T. | British Library Online Contents | 2012

Comparative study of microstructural and tribological properties of sintered, bulk icosahedral samples

Brunet, P. / Zhang, L. M. / Sordelet, D. J. et al. | British Library Online Contents | 2000

Electrical properties of microstructural thin film oxide phosphors

Bondar, V. | British Library Online Contents | 2000

Microstructural and electrical properties of sintered tungsten trioxide

Souza Filho, A. G. / Matias, J. G. N. / Dias, N. L. et al. | British Library Online Contents | 1999

Electrical Properties of p-Channel MOSFETs Fabricated on 4H- and 6H-SiC

Okamoto, M. / Tanaka, M. / Yatsuo, T. et al. | British Library Online Contents | 2007