Synchrotron Radiation Photoelectron Spectroscopy Study of Thermally Grown Oxides on 4H-SiC(0001) Si-Face and (000-1) C-Face Substrates: Fid-Bau Portal

Synchrotron Radiation Photoelectron Spectroscopy Study of Thermally Grown Oxides on 4H-SiC(0001) Si-Face and (000-1) C-Face Substrates

Watanabe, H. / Hosoi, T. / Kirino, T. / Uenishi, Y. / Chanthaphan, A. / Yoshigoe, A. / Teraoka, Y. / Mitani, S. / Nakano, Y. / Nakamura, T.

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Titel:

Synchrotron Radiation Photoelectron Spectroscopy Study of Thermally Grown Oxides on 4H-SiC(0001) Si-Face and (000-1) C-Face Substrates

Beteiligte:

Watanabe, H. (Autor:in) / Hosoi, T. (Autor:in) / Kirino, T. (Autor:in) / Uenishi, Y. (Autor:in) / Chanthaphan, A. (Autor:in) / Yoshigoe, A. (Autor:in) / Teraoka, Y. (Autor:in) / Mitani, S. (Autor:in) / Nakano, Y. (Autor:in) / Nakamura, T. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 717/720 ; 697-702

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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